Aehr Test Systems bietet Testlösungen für das Testen, Einbrennen und Testen von Halbleiterbauelementen auf Waferebene, singulären Chips und Gehäuseteilen sowie installierte Systeme weltweit. Das Produktportfolio umfasst die Systeme FOX-XP und FOX-NP, bei denen es sich um vollständige Waferkontakt- und Singulated Die/Modul-Test- und Burn-in-Systeme handelt, mit denen eine Reihe von Bauelementen getestet, eingebrannt und stabilisiert werden können, darunter Siliziumkarbid-basierte und andere Leistungshalbleiter, 2D- und 3D-Sensoren, die in Mobiltelefonen, Tablets und anderen Computergeräten verwendet werden, Speicher-Halbleiter, Prozessoren, Mikrocontroller, Systems-on-a-Chip sowie Photonik und integrierte optische Geräte. [...]